ASTM E 1635-1995 次级离子质谱法(SIMS)成像数据报告标准规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 16:10:48 浏览:9334
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【英文标准名称】:StandardPracticeforReportingImagingDatainSecondaryIonMassSpectrometry(SIMS)
【原文标准名称】:次级离子质谱法(SIMS)成像数据报告标准规范
【标准号】:ASTME1635-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:规程;次级离子质谱法SIMS;图像分析;成像数据报告
【英文主题词】:Images;Massspectrometry;Practice
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:次级离子质谱法(SIMS)成像数据报告标准规范
【标准号】:ASTME1635-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:规程;次级离子质谱法SIMS;图像分析;成像数据报告
【英文主题词】:Images;Massspectrometry;Practice
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
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